MA-Pro金相材料影像分析系統,適用於各式金相材料影像量化分析,如粒徑大小分析(Grain Size)、球化率分析(Sphericity)、單金相或多金相含量分析、多孔性材料量化分析、銅線IMC共金面積百分比分析、各種材料的面積百分比分析或計數、計量分析等等。
晶粒大小分析 (Grain Size Analysis)
Grain Size量測主要採用 ASTM E 112 定義 Standard Test Methods for Determining Average Grain Size,可量測金相結構的平均徑粒大小,適用於各種金屬材料與非金屬材料的粒徑量化分析,如鋁、銅、鎂、鐵、鋼等合金材料分析與多晶矽太陽能板分析等等。另外,只要符合 ASTM E 112 所定義的型態學原理之樣品,皆可進行相關分析應用。
Grain Size量測範例
多晶矽太陽能板Grain Size量測範例
球化率分析 (Sphericity Analysis)
球化率可依據樣品的球化型態進行條件過濾,將金相材料的球化程度量化,本系統可針對細小的雜質先進行過濾,比採用掛圖比對法還要精準與客觀。
球化率量測範例
銅線IMC封裝製程品質量化分析 (銅打線封裝測試影像量化分析)
由於金價上漲與銅線封裝技術的提昇,IC封裝的銅線封裝製程已正式來臨,相對於金打線封裝製程的高成本,銅打線封裝製程約可降低約10~20%的成本,因此銅線封裝製程絕對是未來會被打量採用的封裝製程方法,為有效的量化銅打線的品質,一套精準可靠的量化分析軟體,絕對是提昇封裝技術與品質的必要工具。
MA-Pro金相材料影像分析系統(銅線IMC影像量測系統),提供簡便的操作程序,只需幾個簡單的步驟,便可選取到銅鋁共金材料的面積,準確性的量化銅鋁共金與非共 金面積百分比,是銅線封裝製程品質量化分析的最佳利器。
銅線共金面積百分比量測示意圖
多金相面積百分比分析 單金相或多金相成分分析與各種材料的面積百分比分析,操作簡易且分析快速,可在極短的時間內量化金相材料的特性,並且具備高精準度與再現性。
多金相面積百分比分析範例
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